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TOP > 技術情報 > 研究開発センターの概要 > テクノリサーチ(受託試験)

テクノリサーチ(受託試験)

先進の研究開発体制と高度な技術力で、ソリューションをお届け致します。身近な評価・解析センターとして是非ご利用ください。

材料試験
分類 試験内容 設備名
静的試験 小型試験片の引張り・曲げ試験
大型試験片の引張り・曲げ試験
100kN引張り試験機
2000kN引張り試験機
衝撃試験 シャルピー衝撃試験 シャルピー衝撃試験機
疲労試験 薄板の平面曲げ疲労試験
軸部材の回転曲げ疲労試験
小型試験片の疲労試験
中型試験片・各種部品単体の疲労試験
大型試験片・小型構造物の疲労試験
平面曲げ疲労試験機
回転曲げ疲労試験機
49kN疲労試験機
196kN疲労試験機
980kN疲労試験機
硬さ試験 ビッカース硬さ試験
マイクロビッカース硬さ試験
ロックウエル硬さ試験
ビッカース硬度計

ロックウエル硬度計
成形性試験 深絞り試験 深絞り試験機
物性評価試験
分類 試験内容 設備名
組織観察 破面観察
ミクロ組織観察
3D立体形状解析
結晶粒度観察、非金属介在物観察、脱炭層深さ測定など
実体顕微鏡
光学顕微鏡
レーザー顕微鏡
FE-SEM
表面粗さ測定 十点平均粗さ、最大高さなど 表面粗さ測定装置
残留応力測定 表面付近の残留応力測定 X線残留応力測定装置
材料成分分析 結晶構造解析による物質同定 X線回折装置
材料中の水素量分析 水素分析装置
点分析(微小部の定性・半定量分析)
線分析、面分析(マッピング分析)
EPMA
その他
分類 試験内容 設備名
耐食性能評価試験 塩水に対する耐食性加速評価 塩水噴霧試験機
試料調製 材料表面の研磨 自動研磨機

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主要設備

FE-SEM(サーマル電界放射型電子顕微鏡) Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope

FE-SEM(サーマル電界放射型電子顕微鏡)  Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope

実用最高倍率が10万倍で、元素分析も可能です。

・ 加速電圧 : 0.1 kV〜30 kV

X線残留応力測定装置 X-ray Residual Stress Tester

X線残留応力測定装置 X-ray Residual Stress Tester

対象物を破壊しないで残留応力を測定することができます。

・ 対象金属 : 鋼、アルミニウム、銅
・ 最小測定範囲 : 1mm×1mm
・ 検出器 : 位置敏感型検出装置(PSPC)

980kN疲労試験機 980kN Fatigue Testing Machine

980kN疲労試験機 980kN Fatigue Testing Machine
・ 構造 : 4本柱アクチュエータ型
・ 最大荷重 : 980kN(動的)、1500kN(静的)
・ ストローク : ±50mm
・ 繰り返し速度 : 2Hz(ストローク20mm)
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