技術センターについて

テクノリサーチ

身近な評価・解析センターとして、先進の研究開発体制と高度な技術力で、皆さまのニーズにお応えします。

材料試験

分類 試験内容 設備名
静的試験
  • 小型試験片の引張り・曲げ試験
  • 大型試験片の引張り・曲げ試験
  • 100kN引張り試験機
  • 2000kN引張り試験機
衝撃試験 シャルピー衝撃試験 シャルピー衝撃試験機
疲労試験
  • 薄板の平面曲げ疲労試験
  • 軸部材の回転曲げ疲労試験
  • 小型試験片の疲労試験
  • 中型試験片・各種部品単体の疲労試験
  • 大型試験片・小型構造物の疲労試験
  • 平面曲げ疲労試験機
  • 回転曲げ疲労試験機
  • 49kN疲労試験機
  • 196kN疲労試験機
  • 980kN疲労試験機
硬さ試験 ビッカース硬さ試験 ビッカース硬度計
マイクロビッカース硬さ試験  
ロックウエル硬さ試験 ロックウエル硬度計
成形性試験 深絞り試験 深絞り試験機

物性評価試験

分類 試験内容 設備名
組織観察
  • 破面観察
  • ミクロ組織観察
  • 3D立体形状解析
  • 結晶粒度観察、非金属介在物観察、脱炭層深さ測定など
  • 実体顕微鏡
  • 光学顕微鏡
  • レーザー顕微鏡
  • FE-SEM
表面粗さ測定 十点平均粗さ、最大高さなど 表面粗さ測定装置
残留応力測定 表面付近の残留応力測定 X線残留応力測定装置
材料成分分析 結晶構造解析による物質同定 X線回折装置
  • 点分析(微小部の定性・半定量分析)
  • 線分析、面分析(マッピング分析)
EPMA

その他

分類 試験内容 設備名
耐食性能評価試験 塩水に対する耐食性加速評価 塩水噴霧試験機
試料調製 材料表面の研磨 自動研磨機

主要設備

FE-SEM(サーマル電界放射型電子顕微鏡)
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope

FE-SEM(サーマル電界放射型電子顕微鏡

実用最高倍率が10万倍で、元素分析も可能です。
・ 加速電圧: 0.1 kV~30 kV

X線残留応力測定装置
X-ray Residual Stress Tester

X線残留応力測定装置

対象物を破壊しないで残留応力を測定することができます。
・ 対象金属: 鋼、アルミニウム、銅
・ 最小測定範囲: 1mm×1mm
・ 検出器: 位置敏感型検出装置(PSPC)

980kN疲労試験機
980kN Fatigue Testing Machine

980kN疲労試験機

・ 構造: 4本柱アクチュエータ型
・ 最大荷重: 980kN(動的)、1500kN(静的)
・ ストローク: ±50mm
・ 繰り返し速度: 2Hz(ストローク20mm)